2024年4月8-11日，一年一度化合物半導(dǎo)體行業(yè)盛會——2024九峰山論壇暨中國國際化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)博覽會（簡稱“JFSC＆CSE”）將于武漢光谷科技會展中心舉辦。燊容電子科技（上海）有限公司將亮相本屆盛會，誠邀業(yè)界同仁蒞臨A212展臺參觀、交流合作。 

本屆CSE博覽會由第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟、九峰山實驗室共同主辦，以“聚勢賦能 共赴未來”為主題，將匯集全球頂尖的化合物半導(dǎo)體制造技術(shù)專家、行業(yè)領(lǐng)袖和創(chuàng)新者，采用“示范展示+前沿論壇+技術(shù)與商貿(mào)交流”的形式，為產(chǎn)業(yè)鏈的升階發(fā)展搭建供需精準(zhǔn)對接平臺，助力企業(yè)高效、強力拓展目標(biāo)客戶資源，加速驅(qū)動中國化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的完善和升級。

CSE作為2024年首場國際化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)博覽會得到了多方力量的大力支持，三大主題展區(qū)，六大領(lǐng)域，將集中展示各鏈條關(guān)鍵環(huán)節(jié)的新技術(shù)、新產(chǎn)品、新服務(wù)，將打造化合物半導(dǎo)體領(lǐng)域的標(biāo)桿性展會。助力打造全球化合物半導(dǎo)體平臺、技術(shù)、產(chǎn)業(yè)的燈塔級盛會，集中展示化合物半導(dǎo)體上下游全產(chǎn)業(yè)鏈產(chǎn)品，搭建企業(yè)發(fā)布年度新產(chǎn)品新技術(shù)的首選平臺，支撐產(chǎn)業(yè)鏈及中部地區(qū)建設(shè)具有全球影響力的萬億級光電子信息產(chǎn)業(yè)集群。

燊容電子科技（上海）有限公司成立于2016年，當(dāng)前整個電源產(chǎn)業(yè)正發(fā)生著深刻的變革，以 SiC（碳化硅）、GaN（氮化鎵）為代表的寬禁帶半導(dǎo)體技術(shù)已經(jīng)在眾多行業(yè)中得到了廣泛的應(yīng)用，也給電源的開發(fā)測試工作帶來了眾多的挑戰(zhàn)。公司與泰克科技始終密切跟蹤最新技術(shù)的進展，通過和業(yè)內(nèi)領(lǐng)軍企業(yè)的密切合作來開發(fā)針對性的測試方案。 基于其性能獨特的光隔離探頭以及示波器等產(chǎn)品，為廣大電源工程師們提供卓越的完整測試解決方案：功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)、功率半導(dǎo)體器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)、動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng)。

產(chǎn)品介紹

泰克5 系列 B MSO 混合信號示波器、 IsoVu 光隔離探頭

5 系列B MSO 具有支持手指開合、滑動和縮放操作的創(chuàng)新觸摸屏用戶界面、業(yè)內(nèi)最大的高分辨率顯示器以及 4、6 或 8 條 FlexChannel™ 輸入通道，能夠應(yīng)對當(dāng)前以及未來嚴(yán)苛的應(yīng)用挑戰(zhàn)。它為性能、分析和整體用戶體驗設(shè)立了新的標(biāo)準(zhǔn)。

•15.6英寸容性觸摸屏

•12位垂直分辨率

•8通道FlexChannel技術(shù)

•高達 2 GHz 帶寬

•高達 500 M 點記錄長度

IsoVu 第二代光隔離探頭，將Vgs真實呈現(xiàn)。推動第三代半導(dǎo)體發(fā)展，為電源行業(yè)帶來技術(shù)革新。解決上管Vgs無法測試問題，優(yōu)化驅(qū)動電壓設(shè)計。

•多種帶寬選擇 – 200 MHz, 500 MHz, 1 GHz

•差分電壓±2500v

•共模電壓 60kV

•共模抑制比 160dB(100,000,000:1) 

功率半導(dǎo)體器件動/靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

開態(tài)測試

從fA到100A4線測試測量更低的導(dǎo)通電阻Rdson

關(guān)態(tài)測試

從µV到3kV，1fA電流分辨率

過壓保護模塊確保低功率設(shè)備安全

CV（電容 - 電壓）測試

支持3KV CV測試功能

自動計算Ciss，Coss，Crss等典型參數(shù)

定制化系統(tǒng)設(shè)計，豐富的硬件配置和高靈活性的驅(qū)動電路

自動化測試軟件,測試功能豐富,可以自動配置參數(shù),測試和生成數(shù)據(jù)報告

高帶寬/高分辨率測試設(shè)備,在高速開關(guān)條件下準(zhǔn)確表征功率器件

覆蓋高壓、中壓、低壓、pmos、GaN 等不同類型,不同封裝芯片測試

可以提供單脈沖、雙脈沖、反向恢復(fù)、Qg、短路測試、雪崩參數(shù)、RBSOA等測試功能

動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng) HTXB-1000D

HTXB-1000D 動靜態(tài)綜合老化測試系統(tǒng)針對以 SiC/ GaN 為首的新型三代半導(dǎo)體功率器件，根據(jù)其特有的器件結(jié)構(gòu)和失效機理，在加速老化條件下，有針對性的施加特定壓力條件（包括靜態(tài)壓力和動態(tài)壓力）， 用以測試功率器件器件的漏流指標(biāo)，以及其他典型特性參數(shù)（例如閾值開啟電壓，導(dǎo)通電阻等關(guān)鍵指標(biāo)），以表征器件的老化特性和工作壽命。 

燊容電子科技（上海）有限公司

上海市寶山區(qū)長江南路180號C652 室

張總：15000372199

柏總： 18621752540

www.shr-etest.com

值此之際，我們誠邀業(yè)界同仁共聚本屆盛會，蒞臨展位現(xiàn)場參觀交流、洽談合作。

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