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ULVAC牛山史三:GaN濺射技術(shù)進(jìn)展

日期:2023-12-27 閱讀:505
核心提示:日本ULVAC株式會(huì)社首席技術(shù)官牛山史三先生帶來了《GaN濺射技術(shù)進(jìn)展》的演講。

氮化鎵電力電子器件具有更高的工作電壓、更高的開關(guān)頻率、更低的導(dǎo)通電阻等優(yōu)勢(shì),并可與成本極低、技術(shù)成熟度極高的硅基半導(dǎo)體集成電路工藝相兼容,在新一代高效率、小尺寸的電力轉(zhuǎn)換與管理系統(tǒng)、電動(dòng)機(jī)車、工業(yè)電機(jī)等領(lǐng)域具有巨大的發(fā)展?jié)摿ΑF浼夹g(shù)發(fā)展將推動(dòng)多個(gè)領(lǐng)域的技術(shù)發(fā)展,并滿足未來對(duì)高性能、高效能轉(zhuǎn)換和小型化的需求。

牛山史三

       近日,第九屆國際第三代半導(dǎo)體論壇(IFWS)&第二十屆中國國際半導(dǎo)體照明論壇(SSLCHINA)在廈門國際會(huì)議中心盛大召開。期間“氮化鎵功率電子器件”分會(huì)上,來自日本ULVAC株式會(huì)社首席技術(shù)官牛山史三先生帶來了《GaN濺射技術(shù)進(jìn)展》的演講。
 
        ULVAC從20年前開始開發(fā)通過濺射方式生長n+-GaN薄膜,目前已有量產(chǎn)經(jīng)驗(yàn),此次是首次在全世界范圍做技術(shù)邀請(qǐng)報(bào)告。本次主要宣講的設(shè)備技術(shù)來源于SEGul-200,其主要是在GaN LED,GaN-HEMT,GaN MOSFET領(lǐng)域的源漏極下方插入n+-GaN薄膜,用以降低接觸電阻,提升器件性能。通過濺射,可以實(shí)現(xiàn)高密度的載流子遷移率,而且可以在600~700℃的溫度下進(jìn)行鍍膜,不需要使用MOCVD所用的危險(xiǎn)氣體,而僅用Ar,N2即可完成。
 
        報(bào)告展示了ULVAC在GaN器件領(lǐng)域的濺射技術(shù)解決方案,吸引了各大高校和企業(yè)的高度關(guān)注,并在現(xiàn)場(chǎng)引發(fā)了熱烈的咨詢和討論。
 
       在本次論壇中,為表彰ULVAC在第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域所做出的杰出貢獻(xiàn),特授予“品牌力量”獎(jiǎng)項(xiàng)。
 
        會(huì)議期間,行業(yè)專家與ULVAC進(jìn)行了深入交流,并對(duì)ULVAC SiC離子注入技術(shù)表示了高度認(rèn)可和贊賞,對(duì)GaN領(lǐng)域未來的Sputter外延技術(shù)表示了極大的關(guān)注和期待。ULVAC株式會(huì)社將繼續(xù)致力于創(chuàng)新和研發(fā),為第三代半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展做出更大的貢獻(xiàn)。

       嘉賓簡(jiǎn)介 
       牛山史三先生 現(xiàn)任ULVAC株式會(huì)社CTO,全球資深濺射技術(shù)專家,負(fù)責(zé)ULVAC濺射技術(shù)在全球市場(chǎng)的開發(fā)和推廣。擁有超過25年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn),對(duì)濺射工藝有著深刻的理解和行業(yè)洞察力。
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